溅射靶材开裂原因生产中使用的冷却水温度与镀膜线实际水温存在差异，导致使用过程中靶材开裂。一般来说，轻微的裂纹不会对镀膜生产产生很大的影响。但当靶材有明显裂纹时，电荷很容易集中在裂纹边缘，导致靶材表面异常放电。放电会导致落渣、成膜异常、产品报废增加。陶瓷或脆性材料靶材始终含有固有应力。这些内应力是在靶材制造发展过程中可以产生的。此外，这些应力不会被退火过程完全消除，因为这是这些材料的固有特性。在溅射过程中，气体离子被轰击以将它们的动量传递给目标原子，提供足够的能量使其从晶格中逃逸。这种放热动量转移使靶材温度升高，在原子水平上可能达到极高的温度。这些热冲击将靶材中已经发展存在的内应力将会增加到许多倍。在这种情况下，如果不适当散热，靶材就可能会断裂。二、溅射靶材开裂应对事项为了防止靶材开裂，需要着重考虑的是散热。需要水冷却机构以从靶去除不需要的热能。另一个需要考虑的问题是功率的增加。短时间内施加过大的功率也会对目标造成热冲击。此外，我们建议将靶材粘合到背板上，这不仅为靶材提供了支撑，而且促进了靶材与水之间更好的热交换。如果目标有一个裂纹，但它是粘接到背板上，仍可以正常使用。北京溅射陶瓷靶材一般多少钱ITO靶材被广泛应用于各大行业之中，其主要应用分为：显示行业、薄膜太阳能电池、功能性玻璃，等三大领域。

从ITO靶材的发展趋势来看：1）大尺寸化，在需要大面积镀膜时，通常将小尺寸靶材拼接焊接成大尺寸靶材，由于具有焊缝，靶材镀膜质量将降低；2）高密度化，在溅射过程中ITO靶材表面会出现结瘤现象，如果继续溅射，所制备的薄膜光学性能以及电学性能将降低。高密度的靶材具有较好的热传导性以及较小的界面电阻，因此结瘤现象出现的概率较小，所制备的ITO薄膜的质量较高，且生产效率、成本较低；3）提高靶材利用率，由于平面靶材在溅射过程中，中间部分难以被侵蚀，因此靶材利用效率相对较低。通过改变靶材形状，可以提高靶材的利用效率，从而降低备ITO薄膜的成本。

氧化锌(ZnO)属于第三代半导体材料,室温下禁带宽度约为3.37eV，其激子束缚能高达60mev，比室温热离化能(26mev)大得多。第三代半导体材料是指宽禁带半导体材料，它们的发光波长短(近紫外)，具有耐高温、抗辐照、制备方法多、毒性小等特点。自1997 年发现ZnO薄膜的室温紫外光发射以来，ZnO薄膜的制备技术及其光电特性成为人们研究的热点。ZnO薄膜可以在低于500C的温度下生长,比ZnSe和GaN的生长温度低得多。ZnO作为一种新型的光电材料在光波导、半导体紫外激光器、发光器件，透明电极等方面应用大面积。Zno 也是一种十分有用的压电薄膜材料，高质量的单晶或c轴择优取向的多晶ZnO薄膜具有良好的压电性质，能够用来制备高频纤维声光器件及声光调制器等压电转换器，在光电通信领域得到大面积的应用。陶瓷靶材和金属靶材各自优缺点。